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离子迁移测试系统的发展

发布时间:2020-05-06发布者:离子迁移测试系统

  根据现在全球市场来说,离子迁移测试系统的发展需要符合现如今省能源、铅/无卤素、小型轻量、低价格、高信赖等要求来发展,也正是在这样的情况下,离子迁移测试系统的发展也需要获得重新的评估。

  离子迁移测试系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压(BIAS VOLTAGE),经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生(ION MIGRATION),并记录阻抗变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是OPEN/SHORT试验,我们将其统称为绝缘劣化试验(ION MIGRATION TESTING)。

离子迁移测试系统

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