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离子迁移测试对电子产品的影响

发布时间:2021-01-15发布者:离子迁移测试

  离子迁移测试是指在潮湿条件下,电子整机产品中的基板与电子器件之间或线路之间由于存在线间分布电场,会使处于两极之闻盼某些金属离子发生电场作用下的迁移,即阳离子向处在阴极状器的部位移动,阴离子会向处于阳极状态的部位移动。

  离子在电路闻的这种电迁移有较大危险,轻则引起设备故障,重则会因引起短路事故而导致火灾。 为了研究产生离子迁移故障的机理,在实验室中要模拟离子迁移过程。通常采用的方法有两种,一种是蒸汽试验法,这是将被测试片放入盛有过饱和盐溶液的容器内,在高湿度和一定温度下使试片发生离子迁移现象,然后通过与镀片连接的超绝缘电阻器对试片的绝缘性能的变化进行测量。

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